Tests de nouveaux précurseurs pour la préparation d'échantillons H/F

Détail de l'offre

Informations générales

Entité de rattachement

Le CEA est un acteur majeur de la recherche, au service des citoyens, de l'économie et de l'Etat.

Il apporte des solutions concrètes à leurs besoins dans quatre domaines principaux : transition énergétique, transition numérique, technologies pour la médecine du futur, défense et sécurité sur un socle de recherche fondamentale. Le CEA s'engage depuis plus de 75 ans au service de la souveraineté scientifique, technologique et industrielle de la France et de l'Europe pour un présent et un avenir mieux maîtrisés et plus sûrs.

Implanté au cœur des territoires équipés de très grandes infrastructures de recherche, le CEA dispose d'un large éventail de partenaires académiques et industriels en France, en Europe et à l'international.

Les 20 000 collaboratrices et collaborateurs du CEA partagent trois valeurs fondamentales :

• La conscience des responsabilités
• La coopération
• La curiosité
  

Référence

2024-33159  

Description de l'unité

En nous rejoignant, vous contribuerez au développement utilisées dans l'industrie française et européenne de demain.

Description du poste

Domaine

Technologies micro et nano

Contrat

Stage

Intitulé de l'offre

Tests de nouveaux précurseurs pour la préparation d'échantillons H/F

Sujet de stage

Afin d'otpimiser les procédés actuels de la microélectronique, une observation à haute résolution est nécessaire. L'outil de choix pour la préparation des échantillons est un microscope à faisceau ionique (FIB), permettant à la fois l'imagerie, l'abrasion de matière, et le dépôt de matière grâce à des gaz précurseurs.
Le but de ce stage expérimental est de tester et de caractériser l'utilisation de nouveaux gaz innovants, afin d'optimiser la préparation d'échantillons.

Durée du contrat (en mois)

[4 à 6 mois]

Description de l'offre

Rejoignez-nous en Stage ! 

CEA Tech Corporate from CEA Tech on Vimeo.

En tant que stagiaire au CEA, vous aurez l'opportunité de travailler au sein d'un environnement de recherche de renommée mondiale. Nos équipes sont composées d'experts passionnés et dédiés, offrant un cadre propice à l'apprentissage et à la collaboration. Vous aurez accès à des équipements de pointe et à des ressources de recherche de premier ordre pour mener à bien vos missions.

Description du poste : 

L’analyse et l’optimisation des procédés de salle blanche nécessitent une observation à très haute résolution de l’intérieur des composants électroniques. Cette observation passe par une préparation minutieuse des échantillons, afin d’obtenir des blocs d’une centaine de nanomètres d’épaisseur (lame TEM) . L’outil de choix pour ce type de préparation, le FIB (Focused Ion Beam) est un microscope à faisceau ionique, permettant à la fois l’imagerie, l’abrasion de matière, et le dépôt de matière grâce à des gaz précurseurs.

Le but de ce stage est de tester et de caractériser l’utilisation de nouveaux gaz commerciaux innovants, afin d’optimiser la préparation d’échantillons. Cette étude permettra d’accéder plus facilement aux zones d’intérêt de l’échantillon, de faciliter la découpe du matériau, ainsi que de limiter les artefacts liés à l’utilisation du FIB pendant la préparation.

Il s’agit d’un stage expérimental, réalisé sur la plateforme de nanocaractérisation du CEA (PFNC), en lien étroit avec les équipes de la salle blanche. Après une courte période vous permettant  de vous familiariser avec le sujet et d’être autonome sur le FIB, il s’agira pour vous d’établir un plan expérimental, afin d’utiliser au mieux le temps machine ainsi que les consommables disponibles. Les expériences, incluant l’utilisation des précurseurs, les coupes par faisceau ionique, et des observations, seront majoritairement réalisées sur le FIB. Vous pourrez également échanger avec les experts techniques de la plateforme de caractérisation (PFNC) afin d’exploiter au mieux les résultats, qui pourront inclure des observations morphologiques par MEB (Microscope électronique à balayage), des mesures de rugosité par AFM (Atomic Force Microscopy), et des analyses chimiques par EDX (Energy Dispersive X-ray).

Moyens / Méthodes / Logiciels

MEB, FIB

Profil du candidat

Qu’attendons-nous de vous ?

Vous préparez un diplôme de niveau Master (1ère ou 2ème année) dans le domaine des nanotechnologies ou de l'instrumentation scientifique.

Vous êtes passionné(e) par la recherche scientifique et technologique, avez un fort intérêt pour le développement de méthodes et pour le travail expérimental, et êtes reconnu(e) pour votre autonomie et votre capacité d'analyse.

Vous possédez des connaissances en microscopie et/ou science des matériaux.

Rejoignez-nous, venez développer vos compétences et en acquérir de nouvelles !

 

Vous avez encore un doute ? Nous vous proposons :

  • L'opportunité de travailler au sein d'une organisation de renommée mondiale dans le domaine de la recherche scientifique,
  • Un environnement unique dédié à des projets ambitieux au profit des grands enjeux sociétaux actuels,
  • Une expérience à la pointe de l’innovation, comportant un fort potentiel de développement industriel,
  • Des moyens expérimentaux exceptionnels et un encadrement de qualité,
  • De réelles opportunités de carrière à l’issue de votre stage
  • Un poste au cœur de la métropole grenobloise, facilement accessible via la mobilité douce favorisée par le CEA,
  • Une participation aux transports en commun à hauteur de 85%,
  • Un équilibre vie privée – vie professionnelle reconnu,
  • Un restaurant d'entreprise,
  • Une politique diversité et inclusion,

Conformément aux engagements pris par le CEA en faveur de l'intégration des personnes handicapées, cet emploi est ouvert à toutes et à tous. Le CEA propose des aménagements et/ou des possibilités d'organisation pour l’inclusion des travailleurs handicapés.

Localisation du poste

Site

Grenoble

Localisation du poste

France, Auvergne-Rhône-Alpes, Isère (38)

Ville

Grenoble

Critères candidat

Diplôme préparé

Bac+5 - Master 2

Possibilité de poursuite en thèse

Non